EDX-LE能量色散X射線分析是一款于RoHS/ELV/法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。配備無(wú)需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測(cè)器）檢測(cè)器，因此在實(shí)現(xiàn)降低運(yùn)作成本和更易維護(hù)的同時(shí)，以維持高可信性分析和進(jìn)一步提高操作性達(dá)到自動(dòng)化分析為目標(biāo)。

 

　　EDX-LE能量色散X射線分析根據(jù)不同樣品從開始測(cè)試到得到結(jié)果所需測(cè)試時(shí)間基本上可在1分鐘內(nèi)完成。

 

　　1、數(shù)據(jù)偏差

 

　　這可能與選擇樣品測(cè)量的類型不一樣，還有就是樣品光譜無(wú)意中覆蓋一個(gè)樣品檢驗(yàn)，這就使得在測(cè)試結(jié)果上會(huì)存在很大的不同，而造成這種情況的原因一般是在測(cè)量時(shí)出現(xiàn)了錯(cuò)誤的曲線，或者是有一些錯(cuò)誤的信息存在，另外還有一點(diǎn)就是樣品太小和樣品本身就存在問(wèn)題。

 

　　ROHS檢測(cè)設(shè)備特征X射線放射性同位素源或X射線發(fā)生器放出的X射線或Γ射線與樣品中元素的原子相互作用，逐出原子內(nèi)層電子。

 

　　當(dāng)外層電子補(bǔ)充內(nèi)層電子時(shí)，會(huì)放射該原子所固有能量的X射線-特征X射線。這些原因都有可能造成ROHS檢測(cè)儀在檢測(cè)時(shí)出現(xiàn)偏差，從而數(shù)據(jù)不精準(zhǔn)。

 

　　2、數(shù)據(jù)丟失

 

　　造成這一情況的出現(xiàn)可能有三方面原因，保存路徑錯(cuò)誤，在對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)保存的時(shí)候沒(méi)有選擇到合適的路徑，所以會(huì)造成數(shù)據(jù)的丟失;還有就是ROHS檢測(cè)儀有可能進(jìn)行了非正常關(guān)機(jī)，當(dāng)沒(méi)有按正常流程進(jìn)行關(guān)機(jī)的話，也有可能造成數(shù)據(jù)丟失。

 

　　較后，也有可能是使用的特殊情況，即在對(duì)樣品檢測(cè)的過(guò)程中出現(xiàn)了問(wèn)題，這也有可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失。一旦有遇到此類現(xiàn)象，操作控制人員需要立即從這三方面去找原因，然后通過(guò)排除法一步步的去解決問(wèn)題。整體來(lái)說(shuō)，只要按正常的流程操作，ROHS檢測(cè)儀一般很少出現(xiàn)這樣的情況的。